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IC-Tester, IC-Tester für Integrierte Schaltungen, Professioneller Tragbarer ABS-IC-Tester für Digitale Transistoren für Operationsverstärker-Optokoppler der Cd4000-Serie

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  • Anwendbar: Der IC-Tester kann die Osmo-Serie, die CD4000-Serie, die Hef400-Serie, die 4500-Serie, Operationsverstärker, Schnittstellenchips, Optokoppler, die automatische Triodenerkennung der Spannungsreglerwerterkennung usw. testen
  • ABS-Material: Professioneller IC-Tester besteht aus ABS-Material, das tragbar und langlebig ist und mit Zuversicht verwendet werden kann
  • Effektiv und praktisch: Deckt die meisten gängigen Geräte innerhalb von 24 Pins ab, was den Wartungsaufwand erheblich reduzieren und die Wartungseffizienz verbessern kann
  • Wartungstester: Der Transistor-IC-Tester ist ein multifunktionaler Wartungstester, der speziell für Wartungspersonal an vorderster Front entwickelt wurde. Sie können aus verschiedenen Testmodi wählen: 5-V-Modus, 3,3-V-Modus, Auto-Modus
  • Eingebaute Modelle: Eingebaute verschiedene Arten von Chip-Datenmodellen, mehr als 1300 Arten, Transistor-Datenmodelle, mehr als 420 Arten, um Ihre täglichen Gebrauchsanforderungen zu erfüllen


Spezifikation:
Artikeltyp: IC-Tester
Material: ABS
Test:74ch-Serie, für Osmo-Serie, Cd4000-Serie, Hef400-Serie, 4500-Serie, Operationsverstärker, Schnittstellenklasse-Chip, Automatische Erkennung von Optokopplern, Transistoren, Erkennung von Spannungswerten
Batteriespezifikationen des Testers: 2 x AA-Batterien (nicht im Lieferumfang enthalten)
Theoretische Auflösung der 5-V-Spannung: 0,0048 V
Wählen Sie verschiedene Testmodi: 5-V-Modus, 3.3 V-Modus, Auto-Modus F: Gibt es einen Zyklustest A: Suchverzeichnis wird 1 + 11 mal getestet, andere Verzeichnisse werden direkt 12 mal getestet, dh nicht einmal die Eingabetaste gedrückt 12 mal Test durchführen, solange ein Test nicht bestanden wird, gilt der Chip als fehlerhaft Chip Tester werden ohne Batterien versendet
Lieferumfang:
1 x IC Tester
3 x Halter
1 x Bedienungsanleitung
Hinweis:
Q: Was ist der Belastungstest
A: Belastungstest, der jeden Ausgangspin von der Chip im Chiptest wird mit einer bestimmten Belastung aufgenommen, damit Es funktioniert nicht im Leerlaufzustand, näher am Chip im tatsächlichen Schaltungsarbeitszustand. Die Bedeutung des Belastungstests im Vergleich zum Nullbelastungstest besteht darin, dass er den Chip auf weiche Fehler wie reduzierte Treiberfähigkeit, normale Funktion aber Alterung, schwachen Durchbruch testen kann. Programmierer verwenden im Allgemeinen keinen Belastungstest, Tester für integrierte Schaltungen verwenden im Allgemeinen einen Belastungstest, große Tester verwenden mehrere Belastungstests mit variabler Impedanz und höherer Genauigkeit. Diese Maschine verwendet einen festen Belastungstest, der Effekt ist schlimmer als bei der großen Maschine, besser als bei keinem Belastungstest


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